sic器件的失效特征

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碳化硅MOSFET器件损坏。从失效的分布来看，呈现以下的特征：损坏的碳化硅器件集中来自供应商日本Rohm公司，且没有集中在特定的供货批次，说明失效是一个普遍现象，与批次质量异常无关联。

欣锐相关人员与国内权威第三方机构展开合作分析，发现与碳化硅器件工艺设计问题直接相关，接下来欣锐科技将采用司法手段维护其权益。

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